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御微半導體首臺新型顯示掩模檢測產品正式發運
2020年6月1日，御微半導體首臺新型顯示掩模檢測產品正式發運。
該產品具有高效率、高檢出率的性能特點，同時支持SECS/GEM SEMI標準，全面滿足工廠自動化需求，更便于工程師分析及解決問題。
御微半導體厚積薄發、砥礪前行，將以創新的產品、優質的服務，不斷為客戶創造價值。
