6月13日，國家知識產權局專利局專利審查協作江蘇中心（以下簡稱審協江蘇中心）電學部主任張曉琳一行8人蒞臨御微半導體開展“半導體量檢測領域技術難點”等主題調研，并召開座談會。御微半導體副總（研發總監）、研發中心機電部經理、系統與集成部經理等相關負責人陪同調研。

  會議期間，御微相關負責人介紹了公司發展情況及知識產權管理工作情況，雙方分別從產品實戰經驗和理論研究出發，就半導體量檢測技術展開討論。審協江蘇中心對御微的技術研發給予了較高的評價。

  雙方還就御微對審協江蘇中心后續調研報告的期望做了討論，從專利地域、技術領域、分析內容（技術脈絡、技術布局、技術發展等）及關注的權利人等方面進行了深入溝通。

  未來，御微半導體將進一步加強專利培育力度，通過持續提高公司技術人員知識產權專業能力，增強專利申請質量，不斷提升核心競爭力，助推公司高質量發展。